Number of the records: 1
Reflected and transmitted mode in the scanning low energy electron microscope
SYS 0467260 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103213146.6 017 $2 DOI 100 $a 20161215d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a JP 200 1-
$a Reflected and transmitted mode in the scanning low energy electron microscope 215 $a 2 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0467259 $1 200 1 $a 2nd Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration (CAMRIC-FORUM2) $v S. 29-30 $1 210 $a Toyama $c University of Toyama $d 2016 610 $a SLEEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0258032 $a Mikmeková $b Eliška $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0052206 $a Pokorná $b Zuzana $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1