Number of the records: 1
Very low energy STEM/TOF system
SYS 0460199 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103212328.2 014 $a 000391254000001 $2 WOS 017 $2 DOI 100 $a 20160621d m y slo 03 ba 101 $a eng $d eng 102 $a CZ 200 1-
$a Very low energy STEM/TOF system 215 $a 2 s. $c P 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0460198 $1 010 $a 978-80-87441-17-6 $1 200 1 $a Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation $v S. 6-7 $1 210 $a Brno $c Institute of Scientific Instruments CAS $d 2016 $1 702 1 $4 340 $a Mika $b Filip 610 $a elecvtron microscopy 610 $a SLEEM 610 $a UHV SLEEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0324291 $a Daniel $b Benjamin $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0222137 $a Radlička $b Tomáš $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0308850 $a Piňos $b Jakub $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 856 $9 RIV $u http://www.trends.isibrno.cz/
Number of the records: 1