Number of the records: 1
Direct bandgap silicon: tensile-strained silicon nanocrystals
SYS 0436758 LBL 02616^^^^^2200409^^^450 005 20240103205240.7 017 70
$a 10.1002/admi.201300042 $2 DOI 100 $a 20150216d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a DE 200 1-
$a Direct bandgap silicon: tensile-strained silicon nanocrystals 215 $a 9 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0436760 $1 011 $a 2196-7350 $e 2196-7350 $1 200 1 $a Advanced Materials Interfaces $v Roč. 1, č. 2 (2014), "1300042-1"-"1300042-9" $1 210 $c Wiley 610 0-
$a silicon nanocrystals 610 0-
$a badstructure 610 0-
$a light emission 610 0-
$a direct bandgap 610 0-
$a surface capping 700 -1
$3 cav_un_auth*0222526 $a Kůsová $b Kateřina $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0263656 $a Hapala $b Prokop $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Low-Dimensional Atomic and Molecular Structures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0092328 $a Valenta $b J. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0100261 $a Jelínek $b Pavel $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Low-Dimensional Atomic and Molecular Structures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0216616 $a Cibulka $b Ondřej $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0255857 $a Ondič $b Lukáš $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100444 $a Pelant $b Ivan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1