Number of the records: 1
Microscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells
SYS 0375054 LBL 02496^^^^^2200397^^^450 005 20240103200658.3 017 70
$a 10.1557/opl.2011.1097 $2 DOI 100 $a 20120223d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Microscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells 215 $a 9 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0375057 $1 010 $a 9781605112985 $1 200 1 $a Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology $v S. 313-321 $1 210 $a Warrendale $c MRS $d 2011 $1 225 $a MRS Symposium Proceeding $v 1321 $1 702 1 $a Yan $b B. $4 340 $1 702 1 $a Higashi $b S. $4 340 $1 702 1 $a Tsai $b C.C. $4 340 $1 702 1 $a Wang $b Q. $4 340 $1 702 1 $a Gleskova $b H. $4 340 610 0-
$a silicon 610 0-
$a scanning probe methods 610 0-
$a solar cells 700 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0221074 $a Klapetek $b P. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0022435 $a Zlámal $b J. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1