Number of the records: 1  

Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy

  1. SYS0367893
    LBL
      
    02507^^^^^2200373^^^450
    005
      
    20240103195915.0
    014
      
    $a 000291704700077 $2 WOS
    017
    7-
    $a 10.4028/www.scientific.net/KEM.465.338 $2 DOI
    100
      
    $a 20111128d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng $d eng
    102
      
    $a CH
    200
    1-
    $a Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy
    215
      
    $a 4 s.
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0367899 $1 010 $a 978-3-03785-006-0 $1 011 $a 1662-9795 $1 200 1 $a Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465) $v S. 338-341 $1 210 $a Zurich $c Trans Tech Publications $d 2011 $1 702 1 $a Šandera $b P. $4 340
    610
    0-
    $a scanning low energy electron microscopy (SLEEM)
    610
    0-
    $a contrast of crystal orientation
    610
    0-
    $a microscopic strain
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0220087 $a Man $b O. $y CZ $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0258033 $a Pantělejev $b L. $y CZ $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0056130 $a Kouřil $b M. $y CZ $4 070
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.