Number of the records: 1
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy
SYS 0367893 LBL 02507^^^^^2200373^^^450 005 20240103195915.0 014 $a 000291704700077 $2 WOS 017 7-
$a 10.4028/www.scientific.net/KEM.465.338 $2 DOI 100 $a 20111128d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a CH 200 1-
$a Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy 215 $a 4 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0367899 $1 010 $a 978-3-03785-006-0 $1 011 $a 1662-9795 $1 200 1 $a Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465) $v S. 338-341 $1 210 $a Zurich $c Trans Tech Publications $d 2011 $1 702 1 $a Šandera $b P. $4 340 610 0-
$a scanning low energy electron microscopy (SLEEM) 610 0-
$a contrast of crystal orientation 610 0-
$a microscopic strain 700 -1
$3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0220087 $a Man $b O. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0258033 $a Pantělejev $b L. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0056130 $a Kouřil $b M. $y CZ $4 070
Number of the records: 1