Number of the records: 1
Semiconductor laser sources at 760 nm wavelength for nanometrology
SYS 0352185 LBL 02607^^^^^2200349^^^450 005 20240103194411.9 100 $a 20101217d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a BG 200 1-
$a Semiconductor laser sources at 760 nm wavelength for nanometrology 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0352184 $1 010 $a 978-954-92600-3-8 $1 011 $a 1790-5117 $1 200 1 $a Proceedings of the 9th WSEAS International Conference on Microelectronics, Nanoelectronics, Optoelectronic $v S. 96-101 $1 210 $a Sofia $c WSEAS EUROPMENT Press $d 2010 610 0-
$a laser interferometry 610 0-
$a absolute measurement 610 0-
$a tunable laser diodes 700 -1
$3 cav_un_auth*0101597 $a Mikel $b Břetislav $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0108402 $a Buchta $b Zdeněk $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101586 $a Lazar $b Josef $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101538 $a Číp $b Ondřej $i D6: Koherenční optika $j D6: Coherents Optics $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1