Number of the records: 1
3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)
SYS 0351718 LBL 01913^^^^^2200277^^^450 005 20240103194341.9 100 $a 20101214d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a CZ 200 1-
$a 3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB) 215 $a 2 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0349528 $1 010 $a 978-80-87294-15-4 $1 200 1 $a Metal 2010 - 19th international conference on metallurgy and materials $v S. 152-153 $1 210 $a Ostrava $c Tanger s.r.o $d 2010 $1 541 1 $z eng 610 0-
$a scanning electron microscopy 610 0-
$a focused ion beam 610 0-
$a 3D characterization 700 -1
$3 cav_un_auth*0266921 $a Hradilová $b Monika $i Kovové a magnetické materiály $j Metallic and magnetic materials $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0255685 $a Jäger $b Aleš $i Kovové a magnetické materiály $j Metallic and magnetic materials $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100354 $a Lejček $b Pavel $i Kovové a magnetické materiály $j Metallic and magnetic materials $p FZU-D $w Functional Metal Materials and Thin Films $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1