Number of the records: 1
White-emitting oxidized silicon nanocrystals: Discontinuity in spectral development with reducing size
SYS 0343173 LBL 02016^^^^^2200349^^^450 005 20240103193523.1 014 $a 000275657500003 $2 WOS 017 $a 10.1063/1.3289719 $2 DOI 100 $a 20100520d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a White-emitting oxidized silicon nanocrystals: Discontinuity in spectral development with reducing size 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256872 $1 011 $a 0021-8979 $e 1089-7550 $1 200 1 $a Journal of Applied Physics $v Roč. 107, č. 5 (2010), 053102/1-053102/6 $1 210 $c AIP Publishing 610 0-
$a silicon nanocrystals 610 0-
$a luminescence 610 0-
$a spectral shift 700 -1
$3 cav_un_auth*0100182 $a Dohnalová $b Kateřina $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0255857 $a Ondič $b Lukáš $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0222526 $a Kůsová $b Kateřina $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100444 $a Pelant $b Ivan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0074418 $a Rehspringer $b J.L. $y FR $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0261999 $a Mafouana $b R.-R. $y FR $4 070
Number of the records: 1