Number of the records: 1
Grain Contrast Imaging in UHV SLEEM
SYS 0340746 LBL 02292^^^^^2200349^^^450 005 20240103193257.7 014 $a 000276538900019 $2 WOS 014 $a 77949718926 $2 SCOPUS 017 7-
$a 10.2320/matertrans.MC200919 $2 DOI 100 $a 20100319d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a JP 200 1-
$a Grain Contrast Imaging in UHV SLEEM 215 $a 5 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0255972 $1 011 $a 1345-9678 $e 1347-5320 $1 200 1 $a Materials Transactions $v Roč. 51, č. 2 (2010), s. 292-296 $1 210 $c Japan Institute of Metals and Materials 610 0-
$a scanning low energy electron microscopy 610 0-
$a electron backscatter diffraction (EBSD) 610 0-
$a grain contrast 610 0-
$a ultra-fine grained materials 700 -1
$3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0220087 $a Man $b O. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0258033 $a Pantělejev $b L. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 856 $u http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/292.html
Number of the records: 1