Number of the records: 1
Scanning low energy electron microscopy of doped silicon at units of eV
SYS 0335882 LBL 01543^^^^^2200289^^^450 005 20240103192744.5 100 $a 20100311d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a IT 200 1-
$a Scanning low energy electron microscopy of doped silicon at units of eV 215 $a 1 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0335881 $1 010 $a N $1 200 1 $a 6th International Workshop on LEEM/PEEM $v S. 110 $1 210 $a Trieste $c ELETTRA $d 2008 610 0-
$a very low energy electron microscopy 610 0-
$a scanning low energy electron microscope 700 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0244354 $a Mikmeková $b Šárka $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $i S1: Elektronová optika a mikroskopie $j S1: Electron optics and microscopy $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1