Number of the records: 1
Some controversial points related to transport in microcrystalline silicon
SYS 0331483 LBL 01528^^^^^2200349^^^450 005 20240103192308.4 014 $a 000271871300013 $2 WOS 017 $a 10.1080/14786430903025724 $2 DOI 100 $a 20100208d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a CZ 200 1-
$a Some controversial points related to transport in microcrystalline silicon 215 $a 15 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0296693 $1 011 $a 1478-6435 $e 1478-6443 $1 200 1 $a Philosophical Magazine $v Roč. 89, 28-30 (2009), s. 2557-2571 $1 210 $c Taylor & Francis 541 1-
$a Několik kontroverzních otázek vztahujících se k transportu v mikrokrystalickém křemíku $z cze 610 0-
$a electronic transport 610 0-
$a microcrystalline silicon 610 0-
$a grain boundary 700 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1