Number of the records: 1
Interferometric Displacement Measurement for Local Probe Microscopy
SYS 0325114 LBL 02040^^^^^2200397^^^450 005 20240103191706.8 014 $a 000268616200007 $2 WOS 017 7-
$a 10.1524/teme.2009.0965 $2 DOI 100 $a 20090525d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a DE 200 1-
$a Interferometric Displacement Measurement for Local Probe Microscopy 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0255196 $1 011 $a 0171-8096 $1 200 1 $a tm-Technisches Messen $v Roč. 76, č. 5 (2009), s. 253-258 541 1-
$a Interferometrické měření polohy pro mikroskopii s lokální sondou $z cze 610 0-
$a Interferometry 610 0-
$a local probe microscopy 610 0-
$a nanometrology 700 -1
$3 cav_un_auth*0101586 $a Lazar $b Josef $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101538 $a Číp $b Ondřej $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0234516 $a Čížek $b Martin $p UPT-D $w Coherents Optics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101627 $a Šerý $b Mojmír $p UPT-D $w Microphotonics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1