Number of the records: 1
Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate
SYS 0324621 LBL 03345^^^^^2200349^^^450 005 20240103191638.1 014 $a 000264161700088 $2 WOS 017 $a 10.1016/j.jcrysgro.2008.09.098 $2 DOI 100 $a 20090519d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a NL 200 1-
$a Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate 215 $a 5 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256941 $1 011 $a 0022-0248 $e 1873-5002 $1 200 1 $a Journal of Crystal Growth $v Roč. 311, č. 3 (2009), s. 789-793 $1 210 $c Elsevier 541 1-
$a Krystalografické vlastnosti tenkých vrstev polykrystalického křemíku s řízenou velikostí zrna na safírových podložkách $z cze 610 0-
$a crystallites 610 0-
$a defects 610 0-
$a chemical vapor deposition processes 610 0-
$a solar cells 700 -1
$3 cav_un_auth*0216315 $a Ogane $b A. $y JP $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0045682 $a Honda $b Shinya $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0204304 $a Uraoka $b Y. $y JP $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0204305 $a Fuyuki $b T. $y JP $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1