Number of the records: 1
Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM
SYS 0308431 LBL 01510^^^^^2200301^^^450 005 20240103190053.9 100 $a 20080529d m y slo 03 ba 101 0-
$a cze 102 $a CZ 200 1-
$a Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM 215 $a 1 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0308430 $1 010 $a N $1 200 1 $a Mikroskopie 2008 $v S. 21 $1 210 $a Praha $c Československá mikroskopická společnost $d 2008 $1 541 1 $a Microscopy 2008 $z eng $1 702 1 $a Frank $b Luděk $4 340 541 1-
$a Imaging of doped silicon structures using PEEM and LVSEM $z eng 610 0-
$a dopants 610 0-
$a PEEM 610 0-
$a SEM 610 0-
$a silicon 700 -1
$3 cav_un_auth*0052204 $a Hovorka $b Miloš $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1