Number of the records: 1
SLEEM Imaging of Doping Patterns in Semiconductors
SYS 0205406 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20200403121528.0 101 0-
$a eng 102 $a IT 200 1-
$a SLEEM Imaging of Doping Patterns in Semiconductors 215 $a 2 s. 463 -1
$1 010 $a 1-58949-003-7 $1 200 1 $a Proceedings of 5th Multinational Congress on Electron Microscopy $v s. 317-318 $1 210 $a Lecce $c Rinton Press $d 2001 $1 702 1 $a Dini $b L. $4 340 $1 702 1 $a Catalano $b M. $4 340 610 1-
$a UHV SEM 610 1-
$a low energy range 700 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0014260 $a El Gomati $b M. M. $y GB $4 070 856 4-
$u mailto:ilona@isibrno.cz
Number of the records: 1