Number of the records: 1  

Surface Cleanliness and Electron Backscattering

  1. SYS0205124
    LBL
      
    00000nam^^22^^^^^^^^450
    005
      
    20200403121516.7
    101
    0-
    $a eng
    102
      
    $a GB
    200
    1-
    $a Surface Cleanliness and Electron Backscattering
    215
      
    $a 1 s.
    463
    -1
    $1 200 1 $a Book of Abstracts EMAS '99 - 6th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis $v s. 344 $1 210 $a Konstanz $c European Microbeam Analysis Society $d 1999
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0101626 $a Steklý $b Richard $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101639 $a Zadražil $b Martin $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0014260 $a El Gomati $b M. M. $y GB $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.