Number of the records: 1  

Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM

  1. SYS0022852
    LBL
      
    01816^^^^^2200277^^^450
    005
      
    20240103180709.6
    100
      
    $a 20060128d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a cze
    102
      
    $a CZ
    200
    1-
    $a Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM
    215
      
    $a 1 s.
    463
    -1
    $1 200 1 $a Mikroskopie 2005 $v s. 41 $1 210 $a Praha $c Československá mikroskopická společnost $d 2005 $1 541 1 $a Microscopy 2005 $z eng
    541
    1-
    $a Quantification of the dopant in semiconductor in SEM $z eng
    610
    0-
    $a dopant
    610
    0-
    $a semiconductor
    610
    0-
    $a se kontrast
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.