Number of the records: 1
Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii
- 1.Lazar, J., Holá, M., Hrabina, J., Oulehla, J., Číp, O., Vychodil, M., Sedlář, P., Provazník, M. Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii. Jemná mechanika a optika. 2015, 60(1), 14-17. ISSN 0447-6441.
Number of the records: 1