- Microstructure and physical properties of black-aluminum antireflecti…
Number of the records: 1  

Microstructure and physical properties of black-aluminum antireflective films

  1. SYS0585771
    LBL
      
    01000a^^22220027750^450
    005
      
    20241111130903.0
    014
      
    $a 85192932879 $2 SCOPUS
    014
      
    $a 001217905700001 $2 WOS
    017
      
    $a 10.1039/D4RA00396A $2 DOI
    100
      
    $a 20240513d m y slo 03 ba
    101
      
    $a eng $d eng
    102
      
    $a GB
    200
    1-
    $a Microstructure and physical properties of black-aluminum antireflective films
    215
      
    $a 12 s.
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0376535 $1 011 $a 2046-2069 $e 2046-2069 $1 200 1 $a RSC Advances $v Roč. 14, May (2024), s. 15220-15231 $1 205 $a ONLINE $1 210 $c Royal Society of Chemistry
    610
      
    $a thin film
    610
      
    $a aluminum
    610
      
    $a antireflective film
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0324063 $a Correa $b Cinthia Antunes $p FZU-D $i Strukturní analýza $j Structure Analysis $w Structure Analysis $y BR $z K $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0346540 $a More Chevalier $b Joris $p FZU-D $i Analýza funkčních materiálů $j Analysis of Functional Materials $w Fabrication and Analysis of Functional Materials $y FR $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0301100 $a Hruška $b Petr $p FZU-D $i Analýza funkčních materiálů $j Analysis of Functional Materials $w Fabrication and Analysis of Functional Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0351353 $a Poupon $b Morgane $p FZU-D $i Strukturní analýza $j Structure Analysis $w Structure Analysis $y FR $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0100418 $a Novotný $b Michal $p FZU-D $i Analýza funkčních materiálů $j Analysis of Functional Materials $w Fabrication and Analysis of Functional Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0345004 $a Minárik $b P. $y CZ
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0100246 $a Hubík $b Pavel $p FZU-D $i Polovodiče $j Semiconductors $w Semiconductors $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0331309 $a Lukáč $b František $p UFP-V $i Materiálové inženýrství $j Materials Engineering $k MI $l MI $w Materials Engineering $y CZ $T Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0204806 $a Fekete $b Ladislav $p FZU-D $i Funkční materiály $j Functional Materials $w Fabrication and Analysis of Functional Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0442724 $a Prokop $b Dejan $p FZU-D $i Analýza funkčních materiálů $j Analysis of Functional Materials $y SK $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0439373 $a Hanuš $b J. $y CZ
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0092328 $a Valenta $b J. $y CZ
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0252234 $a Fitl $b Přemysl $p FZU-D $i Analýza funkčních materiálů $j Analysis of Functional Materials $w Fabrication and Analysis of Functional Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0100346 $a Lančok $b Ján $p FZU-D $i Analýza funkčních materiálů $j Analysis of Functional Materials $w Fabrication and Analysis of Functional Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    856
      
    $u https://hdl.handle.net/11104/0353450 $9 RIV
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.