Number of the records: 1  

Kalibrační standard s mikro reliéfní kalibrační strukturou zaznamenané v tenké vrstvě

  1. 1.
    SYSNO0575340
    TitleKalibrační standard s mikro reliéfní kalibrační strukturou zaznamenané v tenké vrstvě
    TitleCalibration standard with micro relief calibration structure recorded in a thin layer
    Author(s) Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Brunn, Ondřej (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Issue data2024
    SubspeciesFunctional Specimen
    Int.CodeAPL-2024-01
    Technical parametersKřemíkový čip rozměru 10 mm x 10 mm obsahující motiv kalibračních vzorů (s mikronovým a submikronovým rozlišením) vytvořených v tenké vrstvě feromagnetického materiálu naneseného pomocí PVD techniky.
    Economic parametersFunkční vzorek vyvinutý během řešení projektu s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Milan Matějka, Ph.D., mmatejka@isibrno.cz
    Owner NameÚstav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    Document TypePrototyp, metodika, f.vzorek, aut.software, apl.výzkum-normy, u.vzor
    Grant FW03010504 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR), CZ - Czech Republic
    Institutional supportUPT-D - RVO:68081731
    Languagecze
    CountryCZ
    Keywords Calibration sample for microscopy * ferromagnetic layers * electron lithography
    Permanent Linkhttps://hdl.handle.net/11104/0345129
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.