Number of the records: 1
Kalibrační standard s mikro reliéfní kalibrační strukturou zaznamenané v tenké vrstvě
- 1.
SYSNO 0575340 Title Kalibrační standard s mikro reliéfní kalibrační strukturou zaznamenané v tenké vrstvě Title Calibration standard with micro relief calibration structure recorded in a thin layer Author(s) Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Brunn, Ondřej (UPT-D) RID, ORCID, SAIIssue data 2024 Subspecies Functional Specimen Int.Code APL-2024-01 Technical parameters Křemíkový čip rozměru 10 mm x 10 mm obsahující motiv kalibračních vzorů (s mikronovým a submikronovým rozlišením) vytvořených v tenké vrstvě feromagnetického materiálu naneseného pomocí PVD techniky. Economic parameters Funkční vzorek vyvinutý během řešení projektu s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Milan Matějka, Ph.D., mmatejka@isibrno.cz Owner Name Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Document Type Prototyp, metodika, f.vzorek, aut.software, apl.výzkum-normy, u.vzor Grant FW03010504 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR), CZ - Czech Republic Institutional support UPT-D - RVO:68081731 Language cze Country CZ Keywords Calibration sample for microscopy * ferromagnetic layers * electron lithography Permanent Link https://hdl.handle.net/11104/0345129
Number of the records: 1