0471438 - FZÚ 2017 RIV CZ cze C - Conference Paper (international conference)
Čerňanský, Marian
Aproximace Fourierových koeficientů difrakčních profilů.
[Approximations of Fourier coefficients of diffractions profiles.]
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Struktura 2016. Praha: Krystalografická společnost, 2016, s. 361-362. ISSN 1211-5894.
[Struktura 2016, Colloquium of the Czech and Slovak Crystallographic Association. Tábor (CZ), 12.09.2016-15.09.2016]
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : line profile analysis * Fourier coefficients * crystallite size * microstrain
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism

Je podán stručný přehled aproximací, které se vyskytují ve Warrenově–Averbachově interpretaci Fourierových koeficientů difrakčních profilů. Je ukázáno, že jisté aproximace průběhu Fourierových koeficientů umožňují stanovit velikost krystalitů a mikrodeformací jen z jedné difrakční linie.



Approximations in the Warren-Averbach interpretation of Fourier coeeficients of diffraction profiles are briefly summarized. It is shown, that certain approximations of a course of Fourier coefficients enable estimate of crystallite size and microstrain only from a single diffraction line.

Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0268829