Number of the records: 1  

Interferometrické zařízení pro měření odchylek tvaru optických prvků

  1. 1.
    SYSNO ASEP0469393
    Document TypeP1 - Utility model, Industrial Design
    R&D Document TypeResults of legal proteciton (Utility Model , Industrial Design)
    RIV SubspeciesUžitný vzor
    TitleInterferometrické zařízení pro měření odchylek tvaru optických prvků
    TitleInterferometric device for measuring deviations of form of optical elements
    Author(s) Psota, Pavel (UFP-V) RID, ORCID
    Peca, M. (CZ)
    Lédl, Vít (UFP-V) RID
    Burianec, R. (CZ)
    Čelechovská, L. (CZ)
    Year of issue2016
    Publication formPrint - P
    Name of the patent ownerÚstav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i.
    AdressPraha 8
    Date of the utility model acceptance13.12.2016
    Utility model number30152
    Licence feeA - Poskytovatel licence požaduje licenční poplatek
    Current useA - Pouze udělený (dosud nevyužívaný) patent nebo patent využívaný jeho vlastníkem
    Use by another entityA - Pro využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
    Code of the issuer nameCZ001 - Úřad průmyslového vlastnictví Prague
    Languagecze - Czech
    Keywordsinterferometry ; aspherical surfaces ; multiwavelength ; optical elements
    Subject RIVJA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    R&D ProjectsTA03010893 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR)
    Institutional supportUFP-V - RVO:61389021
    AnnotationVýsledek užitný vzor představuje zařízení pro přesné měření odchylek tvaru leštěných asférických, sférických a rovinných optických elementů od jejich nominální hodnoty. Zařízení je z interferometr využívající mnoha vlnových délek světla. Tak lze dosáhnout výrazného zvýšení dynamického rozsahu měřidla, a proto lze použít interferometr i pro měření asférických elementů bez nulovacích členů (jako např. počítačem generovaný hologram).
    Description in EnglishThe utility example is a gauge for very accurate measurement of polished aspherical, spherical or plane surfaces form deviation from their nominal value. The gauge is an interferometer using multiple wavelengths. Therefore it is possible to increase the dynamic range of the measurement and thus the interferometer can be used even for aspherical surfaces measurement without null optics (e.g. computer generated hologram).
    WorkplaceInstitute of Plasma Physics
    ContactVladimíra Kebza, kebza@ipp.cas.cz, Tel.: 266 052 975
    Year of Publishing2017
    Electronic addresshttps://isdv.upv.cz/webapp/webapp.pts.det?xprim=10243589&lan=cs&s_majs=%C3%9Astav%20fyziky%20plazmatu&s_puvo=&s_naze=&s_anot=
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.