Number of the records: 1
Využití Fourierovy transformace při obrazové analýze mikrofotografií
- 1.
SYSNO ASEP 0445326 Document Type J - Journal Article R&D Document Type Journal Article Subsidiary J Ostatní články Title Využití Fourierovy transformace při obrazové analýze mikrofotografií Title Application of Fourier transformation in image analysis of microphotographs Author(s) Šlouf, Miroslav (UMCH-V) RID, ORCID
Vacková, Taťana (UMCH-V) RIDSource Title Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. - : Czech and Slovak Crystallographic Association - ISSN 1211-5894
Roč. 22, č. 2 (2015), s. 91-94Number of pages 4 s. Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords Fourier transform ; microscopy ; image analysis Subject RIV JJ - Other Materials R&D Projects TE01020118 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR) GA14-17921S GA ČR - Czech Science Foundation (CSF) Institutional support UMCH-V - RVO:61389013 Annotation Fourierova transformace (FT) je jedním z pokročilých nástrojů, které lze využít při obrazové analýze mikro - fotografií, neboli při „převodu obrázků na čísla“. V tomto příspěvku velmi stručně shrnujeme teorii FT, která souvisí se zpracováním mikrofotografií. Přitom se soustředíme na metody výpočtu a interpretace FT pro čtyři nejčastější případy v této oblasti: (i) jednorozměrnou diskrétní rychlou FT (1D-DFFT) čárových profilů intenzit, (ii) dvou rozměrnou diskrétní rychlou FT (2D-DFFT) vybraných ploch, a převod vypočtených 2D-DFFT na (iii) 1D radiální profily na (iv) 1D azimutální profily. Na příkladech demonstrujeme, jak může FT pomoci zviditelnit periodické vzdálenosti a symetrii v mikro- a nanostruktuře různých polymerních i nepolymerních materiálů. Description in English Fourier transform (FT) is one of advanced tools for image analysis of micrographs. In this contribution, we briefly summarize FT theory associated with image analysis. Then we focus on a fast and easy calculation and interpretation of (i) one-dimensional discrete fast FT (1D-DFFT) of line intensity pro files, (ii) two-dimensional discrete fast FT (2D-DFFT) of selected image areas and transformation of 2D-DFFT images to (iii) 1D radial profiles and (iv) 1D azimuthal profiles. On typical examples, we show how FT analysis reveals periodicity and symmetry of micro- and nanostructured materials. Workplace Institute of Macromolecular Chemistry Contact Eva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358 Year of Publishing 2016 Electronic address http://www.xray.cz/ms/bul2015-2.htm
Number of the records: 1