Number of the records: 1  

Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy

  1. 1.
    SYSNO0385756
    TitleLaserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy
    TitleLaser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes
    Author(s) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Šerý, Mojmír (UPT-D) RID, SAI
    Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Source Title Jemná mechanika a optika. Roč. 57, č. 10 (2012), s. 283-286. - : Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    Document TypeČlánek v odborném periodiku
    Grant GA102/09/1276 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF)
    TA02010711 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR)
    TE01020233 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR)
    ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS)
    GPP102/11/P820 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF)
    Institutional supportUPT-D - RVO:68081731
    Languagecze
    CountryCZ
    Keywords coordinate position sensing * nanometrology * 3D position * atomic force microscopy * local probe techniques * electron microscopy
    Permanent Linkhttp://hdl.handle.net/11104/0215570
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.