0381586 - ÚMCH 2013 RIV cze U - Conference, Workshop Arrangement
Šlouf, Miroslav - Klementová, Mariana - Palatinus, Lukáš
Mikroskopie materiálů.
[Microscopy of materials.]
[Praha, 14.05.2012-18.05.2012, (W-CST 25/0)]
Institutional support: RVO:61389013 ; RVO:61388980 ; RVO:68378271
Keywords : electron microscopy * materials science * applications
Subject RIV: CD - Macromolecular Chemistry
Result website:
http://www.imc.cas.cz/vymena/morpho_data/_MM2012/index.htm

Pětidenní praktický kurz elektronové mikroskopie, na jehož pořádání se podílí tři ústavy Akademie věd, je určen zájemcům o mikroskopické metody používané při studiu anorganických, kovových a polymerních materiálů. V průběhu kurzu se účastník dozví, co se skrývá za magickými zkratkami SEM, SE, BSE, STEM, EDX, TEM, BF, DF, EELS, EFTEM, ED, SAED, PED, jak se připravují materiály pro elektronovou mikroskopii a zejména jak lze interpretovat získaná mikroskopická, spektroskopická či difrakční data.

Five-day workshop on electron microscopy, organized by three institutes of the Czech Academy of Sciences, for students and researchers from the field of materials science, focused on inorganic, metal and polymer materials. The workshop will explain what the magic abbreviations such as SEM, SE, BSE, STEM, EDX, TEM, BF, DF, EELS, EFTEM, ED, SAED, and PED mean, how the samples for electron microscopy are prepared and, in particular, how to understand and interpret microscopic, spectroscopic and diffraction data.

Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0212018