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Caractérisation spatio-temporelle d'un laser XUV injecté

  1. 1.
    SYSNO ASEP0332330
    Document TypeC - Proceedings Paper (int. conf.)
    R&D Document TypeConference Paper
    TitleCaractérisation spatio-temporelle d'un laser XUV injecté
    TitleSpatio-temporal characterization of an injected XUV laserProstoročasová charakterizace XUV laseru v injekčním módu
    Author(s) Goddet, J.P. (FR)
    Sebban, S. (FR)
    Guilbaud, O. (FR)
    Maynard, G. (FR)
    Cros, B. (FR)
    Gautier, J. (FR)
    Zeitoun, P. (FR)
    Valentin, C. (FR)
    Tissandier, F. (FR)
    Marchenko, T. (FR)
    Lambert, G. (FR)
    Benredjem, D. (FR)
    Boudaa, A. (FR)
    Klisnick, A. (FR)
    Ros, D. (FR)
    Kazamias, S. (FR)
    Cassou, K. (FR)
    Habib, J. (FR)
    Jamelot, G. (FR)
    Lagron, J.C. (FR)
    Joyeux, D. (FR)
    De Rossi, S. (FR)
    Phalippou, D. (FR)
    Delmotte, F. (FR)
    Ravet, M.F. (FR)
    Calisti, A. (FR)
    Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
    Jakubczak, Krzysztof (FZU-D)
    Source TitleUVX 2008: 9th Colloquium on Coherent and Incoherent UV, VUV, and X Sources: Applications and Recent Developments. - Les Ulis cedex A : EDP, 2009 / Jacquemot S. ; Klisnick A. ; Ruchon T. - ISBN 978-2-7598-0462-7
    Pagess. 51-56
    Number of pages6 s.
    ActionColloquium on Coherent and Incoherent UV, VUV, and X Sources /9./
    Event date07.09.2008-10.09.2008
    VEvent locationDourdan
    CountryFR - France
    Event typeWRD
    Languagefre - French
    CountryFR - France
    Keywordsx-ray laser ; seeding ; optical field ionization ; spatial filtering ; wavefront aberrations
    Subject RIVBH - Optics, Masers, Lasers
    R&D ProjectsGC202/07/J008 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF)
    CEZAV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011)
    AnnotationDepuis la démonstration expérimentale au LOA en 2004, d'un laser XUV (OFI) injecté par un faisceau d'harmoniques d'ordres élevés, de nouveaux résultats sur la caractérisation de cette source XUV ont récemment été obtenus. En effet, grâce au filtrage spatial des harmoniques par le milieu amplificateur, l'harmonique amplifié à 32.8 nm nous montre un profil spatiale gaussien avec une divergence de 0.67 mrad. La variation du front d'onde a été mesurée avec un senseur de front d'onde de type Hartmann et donne une valeur de λ/17 rms. Ce qui démontre que ce laser à 32.8 nm est limitée par la diffraction. La mesure de la cohérence temporelle donne un δλ/Λ égal à 10-5 correspondant à une durée d'impulsion de l'ordre de 5 ps.
    Description in EnglishSince the first experimental demonstration of seeded OFI XUV laser at LOA in 2004, new results on the characterization of the XUV source have recently been obtained. Indeed, through the spatial filtering of harmonics in the amplifier medium, amplified harmonic at 32.8 nm shows a Gaussian profile with a divergence of 0.67 mrad. The variation of the wave front was measured with wavefront sensor giving value of 17 rms. It demonstrates that this laser is limited only by diffraction. Measurement of temporal coherence gives 10-5 corresponding to a pulse duration of about 5 ps.
    WorkplaceInstitute of Physics
    ContactKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Year of Publishing2010
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