Number of the records: 1
Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami
- 1.
SYSNO ASEP 0320868 Document Type C - Proceedings Paper (int. conf.) R&D Document Type Conference Paper Title Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami Title Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques Author(s) Čermák, Jan (FZU-D) RID, SAI, ORCID
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Cimrová, Věra (UMCH-V) RID, ORCID
Hörhold, H. H. (DE)
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAISource Title Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference. - Rožnov pod Radhoštěm : Czech RE Agency, 2008 - ISBN 978-80-254-3528-1 Pages s. 31-33 Number of pages 3 s. Action Česká fotovoltaická konference /3./ Event date 03.11.2008-05.11.2008 VEvent location Brno Country CZ - Czech Republic Event type CST Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords AFM ; KFM ; Raman scattering ; organic semiconductors ; photovoltaics Subject RIV BM - Solid Matter Physics ; Magnetism R&D Projects LC06040 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS) KAN400100701 GA AV ČR - Academy of Sciences of the Czech Republic (AV ČR) LC510 GA MŠMT - Ministry of Education, Youth and Sports (MEYS) GD202/05/H003 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF) CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) Annotation Studium strukturních, elektrických a optoelektronických heterostruktur pomocí AFM, KFM, CS-AFM a mapování mikro-Ramanova rozptylu. Description in English Study of morphologic, electronic and optoelectronic properties of organic heterostructures by AFM, KFM, CS-AFM and micro-Raman mapping. Workplace Institute of Physics Contact Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Year of Publishing 2009
Number of the records: 1