0308565 - ÚPT 2008 RIV CZ cze J - Journal Article
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Obrazy ze sekundárních elektronů v rastrovacich elektronových mikroskopech.
[Micrographs of secondary electrons in the scanning electron microscopes.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 53, č. 2 (2008), s. 57-59. ISSN 0447-6441
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : ET detector * secondary electrons * collection efficiency * electrostatic and magnetic field
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0161002