0308215 - ÚPT 2008 RIV CZ eng J - Journal Article
Frank, Luděk
Beamline for Photoemission Spectromicroscopy and Spin Polarized Microscopy with Slow Electrons at CESLAB.
[Beamline pro fotoemisní spektromikroskopii a spinově polarizovanou mikroskopii s pomalými elektrony v CESLAB.]
Materials structure. Roč. 15, č. 1 (2008), s. 111-112. ISSN 1210-8529
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : CESLAB * beamline * LEEM/PEEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160767