Analýza tenkých vrstev metodou SIMS

Number of the records: 1

1.

SYSNO	0306519
Title	Analýza tenkých vrstev metodou SIMS
Title	Analysis of thin films with SIMS
Author(s)	Lorinčík, Jan (URE-Y)
Source Title	Zpravodaj ČVS. Roč. 15, 1/2 (2007), s. 32-40. - : Česká vakuová společnost
Conference	Letní škola vakuové techniky, Štrbské pleso, 04.06.2007-07.06.2007
Document Type	Článek v odborném periodiku
CEZ	AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011)
Language	cze
Country	CZ
Keywords	secondary ion mass spectrometry
Permanent Link	http://hdl.handle.net/11104/0159518

Number of the records: 1