Number of the records: 1
Analýza tenkých vrstev metodou SIMS
- 1.
SYSNO 0306519 Název Analýza tenkých vrstev metodou SIMS Překlad názvu Analysis of thin films with SIMS Tvůrce(i) Lorinčík, Jan (URE-Y) Zdroj.dok. Zpravodaj ČVS. Roč. 15, 1/2 (2007), s. 32-40. - : Česká vakuová společnost Konference Letní škola vakuové techniky, Štrbské pleso, 04.06.2007-07.06.2007 Druh dok. Článek v odborném periodiku CEZ AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011) Jazyk dok. cze Země vyd. CZ Klíč.slova secondary ion mass spectrometry Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0159518
Number of the records: 1