Number of the records: 1
Analýza tenkých vrstev metodou SIMS
SYS 0306519 LBL 01322^^^^^2200253^^^450 005 20240103185903.9 100 $a 20080409d m y slo 03 ba 101 0-
$a cze 102 $a CZ 200 1-
$a Analýza tenkých vrstev metodou SIMS 215 $a 9 s. 300 $a Interní číslo záznamu je URE-Y 20070218. "ODMv2007-". 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0294889 $1 011 $a 1213-2705 $1 200 1 $a Zpravodaj ČVS $v Roč. 15, 1/2 (2007), s. 32-40 $1 210 $c Česká vakuová společnost 541 1-
$a Analysis of thin films with SIMS $z eng 610 0-
$a secondary ion mass spectrometry 700 -1
$3 cav_un_auth*0218328 $a Lorinčík $b Jan $p URE-Y $w Synthesis and characterization of nanomaterials $4 070 $T Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1