Dokonale přizpůsobená vrstva jako okrajová podmínka pro modelování dielektrických vlnovodných struktur

0303732 - URE-Y 20000135 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Čtyroký, Jiří
Dokonale přizpůsobená vrstva jako okrajová podmínka pro modelování dielektrických vlnovodných struktur.
[Perfectly matched layer as a boundary condition for modelling dielectric waveguide structures.]
Praha: TECHMARKET, 2000. ISBN 80-86114-36-8. In: Optické komunikace - O.K. 2000. - (Kucharski, M.), s. 118-122
[Optické komunikace - O.K.'2000 /4./. Prague (CZ), 14.11.2000-15.11.2000]
Grant - others:EU COST(XE) OC 268.10
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2067918
Keywords : integrated optics * modelling * waveguide theory
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering

Příspěvek popisuje princip a vlastnosti moderního typu absorpčních okrajových podmínek vhodných pro numerické modelování dielekterických vlnovodných struktur s použitím modálních metod - tzv. dokonale přizpůsobených vrstev. Je objasněna jejich interpretace jako rozšíření prostorové souřadnice do komplexní oblasti a diskutována možnost zvýšit potlačení parazitních odrazů pro velké úhly dopadu zavedením absorpce. Efekt okrajových podmínek je ilustrován na numerickém příkladu vlnovodné mřížky.

Physical principle of the "perfectly matched layer" as a boundary condition for numerical modelling of open waveguide problems is explained. As an example, spectral properties of waveguide grating are calculated using the mode matching method with perfectly matched layers as a boundary condition.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0113919