Number of the records: 1  

O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub. na podložce InP

  1. 1.
    SYSNO ASEP0303430
    Document TypeK - Proceedings Paper (Czech conf.)
    R&D Document TypeThe record was not marked in the RIV
    TitleO možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev GaxIn1-xAsyP1-y na podložce InP
    TitleNote on the simultaneous measurement of thickness and composition of GaxIn1-xAsyP1-y/InP thin films
    Author(s) Starý, V. (CZ)
    Olšovec, P.
    Jurek, Karel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Peřina, Vratislav (UJF-V) RID
    Kohout, Jindřich (URE-Y)
    Issue dataOstrava: VŠB Technická univerzita, 1996
    Source Title12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků / Lesňák M. ; Luňáček J. ; Pištora J.
    s. 515-517
    Number of pages3 s.
    ActionKonference českých a slovenských fyziků /12./
    Event date02.09.1996-06.09.1996
    VEvent locationOstrava
    CountryCZ - Czech Republic
    Languagecze - Czech
    CountryCZ - Czech Republic
    Keywordsepitaxial layers ; thin films ; III-V semiconductors ; electron probe analysis
    WorkplaceInstitute of Radio Engineering and Electronics
    ContactPetr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
    Year of Publishing2000

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.