Number of the records: 1
O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev Ga.sub.x./sub.In.sub.1-x./sub.As.sub.y./sub.P.sub.1-y./sub. na podložce InP
- 1.
SYSNO ASEP 0303430 Document Type K - Proceedings Paper (Czech conf.) R&D Document Type The record was not marked in the RIV Title O možnosti současného měření složení a tloušťky tenkých polovodičových vrstev GaxIn1-xAsyP1-y na podložce InP Title Note on the simultaneous measurement of thickness and composition of GaxIn1-xAsyP1-y/InP thin films Author(s) Starý, V. (CZ)
Olšovec, P.
Jurek, Karel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Peřina, Vratislav (UJF-V) RID
Kohout, Jindřich (URE-Y)Issue data Ostrava: VŠB Technická univerzita, 1996 Source Title 12. Konference českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků / Lesňák M. ; Luňáček J. ; Pištora J.
s. 515-517Number of pages 3 s. Action Konference českých a slovenských fyziků /12./ Event date 02.09.1996-06.09.1996 VEvent location Ostrava Country CZ - Czech Republic Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords epitaxial layers ; thin films ; III-V semiconductors ; electron probe analysis Workplace Institute of Radio Engineering and Electronics Contact Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Year of Publishing 2000
Number of the records: 1