Number of the records: 1
Experimentální ověření eliminace vlivu eliptické polarizace interferujících vln na přesnost stanovení fázové funkce metodou krokování
- 1.
SYSNO ASEP 0210503 Document Type J - Journal Article R&D Document Type Journal Article Subsidiary J Ostatní články Title Experimentální ověření eliminace vlivu eliptické polarizace interferujících vln na přesnost stanovení fázové funkce metodou krokování Title Experimental verification of a method eliminating in moire-interferometry the influence of elliptical polarisation of interfering waves on the accuracy of phase function determination by phase-shifting technique Author(s) Dobiáš, J. (CZ)
Minster, Jiří (UTAM-F) RID, SAI
Václavík, P. (CZ)Source Title Jemná mechanika a optika. - : Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. - ISSN 0447-6441
Roč. 48, č. 1 (2003), s. 5-9Number of pages 5 s. Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords moire interferometry ; elliptical polarisation ; phase shifting Subject RIV BH - Optics, Masers, Lasers R&D Projects GA101/00/0941 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF) CEZ AV0Z2071913 - UTAM-F Annotation Práce uvádí výsledky experimentálního ověření metody eliminace vlivu elipticity interferujících vln v moirové interferometrii užitím kombinace analytického řešení a přímého měření parametrů elipticky polarizovaných vln. Tento postup je možnou alternativou pro překonání nepříznivého vlivu elipticity prostředky méně náročnými ve srovnání s řešením optickým. Je popsán jednoduchý jednovětvový polarizační interferometr, který pro vytvoření definovaného fázového rozdílu interferujících vln využívá Ehringhausův kompensátor a čtvrtvlnovou fázovou destičku. Použitý polarizační interferometr umožňuje posoudit vliv rozdílných intenzit ozáření protisměrně elipticky polarizovaných interferujících vln i vliv jejich vázané vzájemné orientace. Description in English The paper presents results of an experimental verification of a method eliminating ellipticity of interfering waves in moiré interferometry through a combination of an analytical solution and a direct measurement of parameters of ellipticaly polarized waves in an interferometer. This approach represents a possible alternative for overcoming a contrary influence of ellipticity by means less demanding in comparison with an optical solution. A simple one beam polarization interferometer is introduced, employing an Ehringhaus compensator and a quarter-wave plate, to induce a definite phase shift between the beams. The interferometer makes it possible to assess both the influence of different irradiation intensities of opposite direction ellipticaly polarised waves and the effect of their mutually constrained orientation. Workplace Institute of Theoretical and Applied Mechanics Contact Kulawiecová Kateřina, kulawiecova@itam.cas.cz, Tel.: 225 443 285 Year of Publishing 2004
Number of the records: 1