Number of the records: 1
Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films
- 1.
SYSNO 0133592 Název Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films Tvůrce(i) Deineka, Alexander (FZU-D)
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
Suchaneck, G. (DE)
Gerlach, G. (DE)Zdroj.dok. Physica Status Solidi A : Applied Research. Roč. 188, č. 4 (2001), s. 1549-1552 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. DE Klíč.slova PZT films * optical investigations Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0031555
Number of the records: 1