Number of the records: 1
A new approach to surface photovoltage measurements on hydrogenated microcrystalline silicon layers
SYS 0133405 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20230418210401.6 101 0-
$a eng 102 $a GB 200 1-
$a A new approach to surface photovoltage measurements on hydrogenated microcrystalline silicon layers 215 $a 6 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257408 $1 011 $a 0950-0839 $e 1362-3036 $1 200 1 $a Philosophical Magazine Letters $v Roč. 81, č. 6 (2001), s. 405-410 $1 210 $c Taylor & Francis 610 1-
$a surface photvoltage 610 1-
$a microcrystalline silicon 610 1-
$a diffusion length 700 -1
$3 cav_un_auth*0100582 $a Švrček $b Vladimír $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100444 $a Pelant $b Ivan $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0225695 $a Toušek $b J. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0063863 $a Kondo $b M. $y JP $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0062686 $a Matsuda $b A. $y JP $4 070
Number of the records: 1