Number of the records: 1
Ellipsometry non-destructive technique for PZT thin films investigations
SYS 0133333 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20200403114347.3 101 0-
$a eng 102 $a CZ 200 1-
$a Ellipsometry non-destructive technique for PZT thin films investigations 215 $a 3 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0290003 $1 011 $a 0447-6441 $1 200 1 $a Jemná mechanika a optika $v 11-12, - (2000), s. 329-331 $1 210 $c Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 610 1-
$a PZT 610 1-
$a J.A. Wollam spectral ellipsometer 610 1-
$a refractive index depth profiels 700 -1
$3 cav_un_auth*0038106 $a Deineka $b Alexander $p FZU-D $w Optical and Biophysical Systems $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100259 $a Jastrabík $b Lubomír $p FZU-D $w Low-Temperature Plasma $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100523 $a Soukup $b Ladislav $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1