Number of the records: 1
Characterization of laser pattern a-Si:H thin films by combined AFM/Local Current Measurements
SYS 0132755 LBL 02025nam^^2200313^^^450 005 20210715114848.1 101 0-
$a eng 102 $a DE 200 1-
$a Characterization of laser pattern a-Si:H thin films by combined AFM/Local Current Measurements 215 $a 2 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257421 $1 011 $a 0031-8965 $1 200 1 $a Physica Status Solidi A $e Applied Research $v Roč. 170, č. 1 (1998), s. R1-R2 700 -1
$3 cav_un_auth*0100487 $a Rezek $b Bohuslav $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0016638 $a Nebel $b C. E. $y DE $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0016637 $a Stutzmann $b M. $y DE $4 070
Number of the records: 1