Number of the records: 1
The collection efficiency of the Everhart-Thornley detector of secondary electrons in SEM
SYS 0109031 LBL 02674^^^^^2200289^^^450 005 20200403113532.6 100 $a 20050511d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a BE 200 1-
$a The collection efficiency of the Everhart-Thornley detector of secondary electrons in SEM 215 $a 2 s. 463 -1
$1 200 1 $a EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress $h 1 $i Instrumentation & Methodology. $v s. 79-80 $1 210 $a Liege $c Belgian Society for Microscopy $d 2004 541 1-
$a Sběrová účinnost Everhart-Thornley-ho detektoru sekundárních elektronů v REM $z cze 610 0-
$a scanning electron microscopy 610 0-
$a collection efficiency 610 0-
$a secondary electrons 700 -1
$3 cav_un_auth*0101580 $a Konvalina $b Ivo $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1