Number of the records: 1  

Surface excitations in electron backscattering from silicon surfaces

  1. 1.
    0104226 - FZU-D 20040568 RIV NL eng J - Journal Article
    Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Lesiak, B. - Jablonski, A.
    Surface excitations in electron backscattering from silicon surfaces.
    [Vliv povrchových excitací na pružný odraz elektronů od povrchu křemíku.]
    Surface Science. Roč. 562, - (2004), s. 92-100. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
    R&D Projects: GA ČR GA202/02/0237
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z1010914
    Keywords : electron-solid interactions * electron-solid scattering and transmission-elastic * electron-solid scattering and transmission-inelastic * Monte Carlo simulation * electron bombardment * silicon
    Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
    Impact factor: 2.168, year: 2004

    The surface excitation corrections are applied on measured electron backscattering probabilities from silicon surface with respect to copper and gold standards. Corrected peak areas are finally used for evaluating of inelastic mean free paths for silicon, and compared with the available literature data.

    Povrchové neelastické excitace, které budí elektrony při průchodu povrchem, podstatně ovlivnují výtěžek fotoelektronů a Augerových elektronů. V práci je popsána jednoduchá metoda korekce na tyto neelastické procesy. Korigovaná data zpřesnují kvantitativní analýzu povrchu.
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0011503
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.