0100475 - FZU-D 20040331 RIV NL eng J - Journal Article
Poruba, Aleš - Špringer, Jiří - Müllerová, Lenka - Beitlerová, Alena - Vaněček, Milan - Wyrsch, N. - Shah, A.
Temperature dependence of the optical absorption coeffiecient of microcrystalline silicon.
[Teplotní závislost optického absorpčního koeficientu mikrokrystalického křemíku.]
Journal of Non-Crystalline Solids. 338-340, - (2004), s. 222-227. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
R&D Projects: GA AV ČR IAB2949101
EU Projects: European Commission(XE) ENK6-CT-2000-00321 - DOIT
Institutional research plan: CEZ:AV0Z1010914
Keywords : temperature dependence * microcrystalline silicon * photocurrent spectroscopy
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 1.433, year: 2004

The optical absorption coefficient of amorphous and microcrystalline silicon was determined in a spectral range 400-3100 nm and a temperature range 77-350 K. Transmittance measurement and Fourier transform photocurrent spectroscopy were used. The measured data served as an input for our optical model of amorphous/microcrystalline tandem solar cell

Absorpční koeficient amorfního a mikrokrystalického křemíku byl vyhodnocován ve spektrálním rozsahu 400-3100 nm a rozmezí teplot 77-350 K. Pro charakterizaci bylo použito měření optické propustnosti a metody Fourierovské fotovodivostní spektroskopie. Vyhodnocená data absorpčního koeficientu byla využita pro optické modelování tandemové struktury solárních článků amorfní - mikrokrystalický křemík
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0007977