Height profile measurement by means of white light interferometry

Number of the records: 1

SYSNO ASEP	0100119
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Height profile measurement by means of white light interferometry
Překlad názvu	Měření výškového profilu pomocí interferometrie v bílém světle
Tvůrce(i)	Pavlíček, Pavel (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Wave and Qantum Aspects of Contemporary Optics. - Washington : SPIE The International Society for Optical Engineering, 2003 / Zajac M. ; Masajada J. - ISSN 0277-786X - ISBN 0-8194-5146-0
Rozsah stran	s. 139-144
Poč.str.	6 s.
Akce	Polish-Czech-Slovak Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /13./
Datum konání	09.09.2002-13.09.2002
Místo konání	Krzyzowa
Země	PL - Polsko
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Klíč. slova	white-light interferometry ; height profile ; rough surface ; speckle pattern
Vědní obor RIV	BH - Optika, masery a lasery
CEP	LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEZ	AV0Z1010921 - FZU-D
Anotace	White-light interferometry allows to measure the height profile of smooth as well as of rough surface. A very low measurement uncertainty is independent on the measurement range, the ambiguity problem does not occur
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2005

Number of the records: 1