- Výpočet aberačních koeficientů regresí a jejich využití při výpočtu p…
Number of the records: 1  

Výpočet aberačních koeficientů regresí a jejich využití při výpočtu proudové hustoty svazků

  1. 1.
    SYSNO ASEP0028804
    Document TypeJ - Journal Article
    R&D Document TypeJournal Article
    Subsidiary JOstatní články
    TitleVýpočet aberačních koeficientů regresí a jejich využití při výpočtu proudové hustoty svazků
    TitleComputation of aberration coefficients by fitting and their use for calculation of current density in beams
    Author(s) Oral, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Source TitleJemná mechanika a optika. - : Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. - ISSN 0447-6441
    Roč. 50, č. 2 (2005), s. 49-51
    Number of pages3 s.
    Languagecze - Czech
    CountryCZ - Czech Republic
    Keywordsscanning ion microscope ; electron optics ; spot profiles
    Subject RIVBM - Solid Matter Physics ; Magnetism
    R&D ProjectsKJB2065405 GA AV ČR - Academy of Sciences of the Czech Republic (AV ČR)
    AnnotationČlánek popisuje postup výpočtu aberačních koeficientů regresí. Podmínkou k výpočtu je dostupnost analytického vyjádření optických vad, které se vyžívá nejen při samotné regresi, ale i následně pro rychlý výpočet poloh částic za optickým systémem, například pro získání profilů svazků. Metoda je ilustrována na výpočtu proudové hustoty ve vychýleném svazku iontů.
    Description in EnglishThe paper describes a method of calculation of aberration coefficients by regression (fitting). A prerequisite for the calculation is knowledge of an analytical expression of optical aberrations, which is used not only for fitting, but also for a fast computation of particle positions behind an optical system, e. g. for evaluation of a beam profile. The method is illustrated on computation of current density profiles in a deflected ion beam.
    WorkplaceInstitute of Scientific Instruments
    ContactMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Year of Publishing2006
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.