Number of the records: 1
Determination of single microcrystalline silicon grains preferential crystallographic orientation by polarized Raman spectroscopy
SYS 0373735 LBL 01988^^^^^2200361^^^450 005 20240103200537.2 014 $a 000281210900584 $2 WOS 100 $a 20120209d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Determination of single microcrystalline silicon grains preferential crystallographic orientation by polarized Raman spectroscopy 215 $a 2 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0373736 $1 010 $a 978-0-7354-0818-0 $1 200 1 $a XXII International Conference on Raman Spectroscopy $v S. 1109-1110 $1 210 $a Melville $c AIP $d 2010 $1 225 $a AIP Conference Proceedings $v 1267 $1 702 1 $a Champion $b P.M. $4 340 $1 702 1 $a Ziegler $b L.D. $4 340 610 0-
$a Raman 610 0-
$a microcrystalline silicon 610 0-
$a atomic force microscopy 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Ledinský $b Martin $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Vetushka $b Aliaksi $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Stuchlík $b Jiří $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Fejfar $b Antonín $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $a Kočka $b Jan $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1