Number of the records: 1  

Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM)

  1. 1.
    SYSNO0101482
    TitleCharakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM)
    TitleCharacterization of nanostructures and nanoparticles using atomic force microscopy
    Author(s) Špírková, Milena (UMCH-V) RID, ORCID
    Matějíček, P. (CZ)
    Slepička, P. (CZ)
    Source TitleZborník. s. 24-26. - Bratislava : Ústav polymérov, 2004
    Conference Slovensko-české dni o polyméroch /3./, Smolenice, 26.09.2004-29.09.2004
    Document TypeKonferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grant KSK4050111 GA AV ČR - Academy of Sciences of the Czech Republic (AV ČR)
    GA102/03/0449 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF)
    CEZAV0Z4050913 - UMCH-V
    Languagecze
    CountrySK
    Keywords atomic force microscopy * surface morphology * nanoparticles
    Permanent Linkhttp://hdl.handle.net/11104/0008908
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.