Number of the records: 1
Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM)
- 1.
SYSNO ASEP 0101482 Document Type C - Proceedings Paper (int. conf.) R&D Document Type Conference Paper Title Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM) Title Characterization of nanostructures and nanoparticles using atomic force microscopy Author(s) Špírková, Milena (UMCH-V) RID, ORCID
Matějíček, P. (CZ)
Slepička, P. (CZ)Source Title Zborník. - Bratislava : Ústav polymérov, 2004 Pages s. 24-26 Number of pages 3 s. Action Slovensko-české dni o polyméroch /3./ Event date 26.09.2004-29.09.2004 VEvent location Smolenice Country SK - Slovakia Event type EUR Language cze - Czech Country SK - Slovakia Keywords atomic force microscopy ; surface morphology ; nanoparticles Subject RIV JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering R&D Projects KSK4050111 GA AV ČR - Academy of Sciences of the Czech Republic (AV ČR) GA102/03/0449 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF) CEZ AV0Z4050913 - UMCH-V Annotation V příspěvku jsou prezentovány výsledky dosažené pomocí mikroskopie atomových sil při 1) studiu morfologie povrchů nanokompozitních materiálů a při 2) charakterizaci nanočástic deponovaných na substrátech. Description in English Results on 1) surface morphology of nanocomposites and 2) characterization of surface-deposited nanoparticles, obtained by atomic force microscopy, are described. Workplace Institute of Macromolecular Chemistry Contact Eva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358 Year of Publishing 2005
Number of the records: 1