Number of the records: 1  

Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM

  1. 1.
    SYSNO0022852
    TitleKvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM
    TitleQuantification of the dopant in semiconductor in SEM
    Author(s) Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Source TitleMikroskopie 2005. s. 41. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2005
    Conference Mikroskopie 2005, Nové Město na Moravě, 24.2.2005-25.2.2005
    Document TypeKonferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Grant GA102/05/2327 GA ČR - Czech Science Foundation (CSF), CZ - Czech Republic
    Languagecze
    CountryCZ
    Keywords dopant * semiconductor * se kontrast
    Permanent Linkhttp://hdl.handle.net/11104/0111562
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.