Number of the records: 1
Holografické měřidlo pro free form povrchy
- 1.
SYSNO ASEP 0486011 Document Type L - Prototype, Functional Specimen R&D Document Type Prototype, Functional Specimen RIV Subspecies Functional Specimen Title Holografické měřidlo pro free form povrchy Title Hologaphical device for measurement of freeform surfaces Author(s) Kredba, Jan (UFP-V) ORCID
Lédl, Vít (UFP-V) RID
Psota, Pavel (UFP-V) RID, ORCID
Vojtíšek, Petr (UFP-V) RIDYear of issue 2016 Int.Code DP0006-2016-FV2 Technical parameters Holografické měřidlo osvětluje povrch z 16-ti směrů různými vlnovými délkami (v rozmezí 770nm - 850nm) a pomocí CMOS senzoru s velikostí 2016x2016 pixelů (velikost pixelu 3.1um x 3.1um) sbírá odražené a rozptýlené světlo od objektu. Na čipu se interferencí s referenční rovinnou vlnou vytváří digitální hologramy, které jsou pomocí algoritmů vyhodnoceny do podoby odchylky tvaru plochy od jejího nominálního předpisu. Economic parameters Měření freeform povrchů bez nutnosti skenování povrchu. Vhodné pro broušené povrchy. Urychlení samotného měření i úkony s měřením spojené. Dosáhnutí větší efektivity výrobního řetězce. Owner Name Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i. Registration Number of the result owner 61389021 Applied result category by the cost of its creation C - Vyčerpaná část nákladů > 10 mil. Kč a <= 50 mil. Kč Use by another entity P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence License fee fee Z - Poskytovatel licence nepožaduje v některých případech licenční poplatek Internal identification code of the product assigned by its creator, Regulation no., DP0006-2016-FV2 Language cze - Czech Country CZ - Czech Republic Keywords Form measurement ; digital holography ; freeform surfaces ; multiwavelength Subject RIV JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering OECD category Electrical and electronic engineering R&D Projects TA03010893 GA TA ČR - Technology Agency of the Czech Republic (TA ČR) Institutional support UFP-V - RVO:61389021 Annotation Funkční vzorek je měřidlo založené na principu více-vlnné digitální holografie. Metoda využívá měření daného povrchu při osvětlení z několika různých směrů a následného složení dílčích měření pomocí metody nejmenších čtverců. Tato metoda umožňuje měřit rovinné, sférické, asférické i tzv. free-form tvary broušených povrchů. Description in English A functional sample is a measurement device based on the principle of multi-wavelength digital holography. The method enables to measure the surface shape from different illumination directions and subsequently the measurements are composed using the least square method. This method makes it possible to measure planar, spherical, aspherical and so-called free-form shapes of ground surfaces. Workplace Institute of Plasma Physics Contact Vladimíra Kebza, kebza@ipp.cas.cz, Tel.: 266 052 975 Year of Publishing 2018
Number of the records: 1