Number of the records: 1
GaN quantum dot polarity determination by X-ray photoelectron diffraction
SYS 0463238 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20240103212653.5 014 $a 84983535102 $2 SCOPUS 014 $a 000384577600141 $2 WOS 017 $a 10.1016/j.apsusc.2016.07.169 $2 DOI 100 $a 20160930d m y slo 03 ba 101 $a eng 102 $a NL 200 1-
$a GaN quantum dot polarity determination by X-ray photoelectron diffraction 215 $a 5 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0256173 $1 011 $a 0169-4332 $e 1873-5584 $1 200 1 $a Applied Surface Science $v Roč. 389, Dec (2016), s. 1156-1160 $1 210 $c Elsevier 610 $a GaN 610 $a semipolar GaN 610 $a quantum dots 610 $a X-ray photoelectron diffraction 610 $a surface polarity 700 -1
$3 cav_un_auth*0100644 $a Romanyuk $b Olexandr $i Optické materiály $j Optical Materials $p FZU-D $w Optical Materials $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100128 $i Strukturní analýza $j Structural Analysis $w Structure Analysis $4 070 $a Bartoš $b Igor $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0333984 $4 070 $a Brault $b J. $y FR 701 -1
$3 cav_un_auth*0333985 $4 070 $a De Mierry $b P. $y FR 701 -1
$3 cav_un_auth*0263065 $4 070 $a Paskova $b T. $y US 701 -1
$3 cav_un_auth*0100265 $i Optické materiály $j Optical Materials $w Optical Materials $4 070 $a Jiříček $b Petr $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1