Number of the records: 1
Držák vzorků pro FIB-SEM umožňující analýzu vzorku při nízkých teplotách
SYS 0550701 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20220320214906.6 100 $a 20210607d m y slo 03 ba 101 $a cze 102 $a CZ 200 1-
$a Držák vzorků pro FIB-SEM umožňující analýzu vzorku při nízkých teplotách 210 $d 2021 541 $a A sample holder for FIB-SEM at low temperature $z eng 610 $a Cryo-SEM 610 $a Raman spectroscopy 610 $a electron microscopy 610 $a FIB-SEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0310894 $a Hrubanová $b Kamila $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0401347 $a Láznička $b Tomáš $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0286053 $a Krzyžánek $b Vladislav $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0266451 $a Samek $b Ota $p UPT-D $i D5: Mikrofotonika $j D5: Microphotonics $w Microphotonics $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Number of the records: 1